MOEORW-WPD-S4D Dalinio iškrovimo testavimo sistema

MOEORW-WPD-S4DDalinio iškrovimo testavimo sistemastandartiškai komplektuojamas su 4 kanalais, išplečiamas iki 16 kanalų, aptikimo jautrumas yra lygus<0.1pC, an 80MHz sampling rate, and 14-bit sampling accuracy. It complies with IEC60270 and GB/T7354-2018 standards and is suitable for testing various types of high-voltage equipment.

Įrenginys palaiko 10 kHz-1MHz filtro reguliavimą, 60 dB reguliuojamą stiprinimą, išmatuojamą 6pF ~ 250 μF talpą, platų darbinės temperatūros diapazoną -10 laipsnių ~ 50 laipsnių ir pasiekia tikslų dalinio iškrovimo matavimą ir intelektualią analizę bendradarbiaujant aparatinei ir programinei įrangai.

Produkto pristatymas

MOEORW-WPD-S4Dkelių{0}}kanalų dalinio iškrovimo (PD) bandymo rinkinyspasižymi kompaktišku dizainu ir gali būti valdomas nuotoliniu būdu per asmeninį arba nešiojamąjį kompiuterį per TCP/IP tinklą. Šis instrumentas tinka aukštos-tampos gaminių tipo, gamyklos bandymams ir priėmimo bandymams, taip pat gali atlikti kiekybinį variklių, transformatorių, kabelių, įvorių, kondensatorių, transformatorių, viršįtampių ribotuvų, jungiklių ir kitų aukštos{2} įtampos elektros prietaisų iškrovos bandymus. Skaitmeninis dalinės iškrovos detektorius atitinka IEC60270 ir GB/T7354-2018 standartus ir gali išmatuoti bei įrašyti dalinio iškrovimo (PD) ir kintamosios srovės bandymo įtampą. DC įtampos PD matavimas yra neprivaloma standartinio prietaiso funkcija.

Produkto parametras (specifikacija)

Dalinio iškrovimo matavimo sistema

Dalinės iškrovos matavimo kanalų skaičius	4 kanalų (galima prijungti kelis įrenginius) 16 kanalų)
Įvesties varža	50Ω
Analoginis filtras (-6 dB)	atitinka IEC60270 , GB/T7354-2018 standartą
	Apatinis ribinis dažnis fL: 10kHz 20kHz 40kHz 60kHz 80kHz neprivalomas
	Viršutinė dažnio riba fU: 100kHz, 200kHz, 300kHz, 400kHz, 500kHz 1 MHz Neprivaloma
Aptikimo jautrumas	<1pC(CA =10nF/CK=1nF)
Aptikimo jautrumas	<0.1pC(CA =1nF/CK=1nF)
Mėginių ėmimo tikslumas	14 bitų

Atrankos dažnis	80MHz
Stiprinimo reguliavimo diapazonas	60 dB 40 dB 20 dB 0 dB , -20 dB , -40 dB Automatinis arba rankinis Sureguliuoti
Testuojamas talpos diapazonas	6pF ~ 250 μF
tiesiškumo klaida	< ± 3%

Įtampos matavimo sistema

Įtampos matavimo kanalų skaičius	4 kanalai (galima prijungti kelis įrenginius) 16 kanalų)
Įvesties įtampos diapazonas	5 ~ 230 VAC (RMS)
tiesiškumo klaida	< ± 3%
Dažnių diapazonas	10 ~ 450 Hz
Sinchronizacijos metodas	Automatinis perjungimas tarp maitinimo šaltinio sinchronizavimo ir įtampos įvesties sinchronizavimo
Sinchronizacijos tikslumas	<1°

Sąsaja

Dalinio iškrovimo įėjimas	4 × BNC
Įtampos įėjimas	4 × Lėktuvo kištukas
Ethernet / LAN	1 × RJ-45

Reikalingas kompiuteris

operacinė sistema	Windows 7 / Windows 10 64 -bit operacinė sistema
procesorius	Intel CORE i5 ir naujesnės versijos
Atmintis	8G ir daugiau
kietasis diskas	128G ir daugiau
Tinklo sąsaja	10/100/1000 Mbps

Fizinės ir aplinkosaugos taisyklės

maitinimo šaltinis	176 ~ 264 VAC 50/60Hz
Maitinimo saugiklis	250V T 5A
Darbinė temperatūra	-10 laipsnių iki 50 laipsnių
Laikymo temperatūra	-40 laipsnių ~ 60 laipsnių
santykinė oro drėgmė	5% ~ 95% Nėra kondensato

Matmenys (plotis × gylis ×

aukštas)

445 mm × 355 mm × 88 mm

svorio

11,7 kg

Produkto savybės ir pritaikymas

Daug{0}}kanalų, didelis tikslumas
4 kanalai, išplečiami iki 16 kanalų; 80 MHz diskretizavimo dažnis / 14 bitų raiška; dalinės iškrovos aptikimo jautrumas < 0,1 pC
Platus{0}}diapazonas, reguliuojamas pritaikymas
Filtro diapazonas: 10 kHz–1 MHz; 60 dB reguliuojamas stiprinimas; išmatuojama talpa: 6 pF–250 μF; suderinamas su įvairių tipų aukštos{5}} įtampos įranga
Stabilus ir suderinamas prisitaikymas
Platus darbinės temperatūros diapazonas: -10 laipsnių iki 50 laipsnių; atitinka IEC 60270 ir GB/T 7354-2018 standartus; tinka sudėtingoms eksploatavimo vietoje sąlygomis

Gamybos detalės

Įrangos testavimas

Aukštos{0}}tampos elektros įrangos, įskaitant transformatorius, srovės transformatorius, kabelius, įvores, kondensatorius, viršįtampių ribotuvus ir jungiklius, dalinis išlydžio kiekybinis bandymas

Testavimo procedūros

Tinka aukštos{0}}tampos gaminių tipo bandymams, gamykliniams bandymams ir priėmimo bandymams, taip pat laboratoriniams bandymams ir matavimams vietoje{1}}